LED產品在實際使用中可能會遇到溫度急劇變化的環(huán)境，溫度循環(huán)／溫度沖擊試驗，幫助客戶更好地了解產品的性能。

溫度循環(huán)試驗的嚴格登記由組成循環(huán)試驗的高低溫溫度值、平衡時間、轉換時間及循環(huán)次數決定。相關規(guī)范規(guī)定高低溫應從GB/T2421-2001《試驗A：低溫》和GB/T2423.2-2001《試驗B：高溫》規(guī)定的試驗溫度中選取。循環(huán)次數一般為5個，轉換時間為2～3min。

熱沖擊試驗是溫度劇烈變化環(huán)境下的試驗。熱沖擊試驗的程序和方法與溫度循環(huán)試驗基本一樣，金鑒實驗室專家分析兩者的主要區(qū)別是：熱沖擊試驗的溫度變化更為劇烈。此試驗并非真正模擬實際情況。其目的在施加嚴苛應力于試件上，加速試件之老化因子，使試件在環(huán)境因素下可能產生潛在性損害系統(tǒng)設備及零組件，以決定試件是否正確設計或制造。

   常見的失效模式：

1）產品之電性功能
2）產品結構毀壞或強度降低
3）零組件之錫裂現象
4）材質之變質而引起化學作用
5）密封損害

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